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产品名称 半导体分立器件静态参数测试系统
发布时间 2023-5-12
DCT2000半导体分立器件静态参数测试系统能测试很多电子元器件的静态直流参数(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开
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